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SSDの信頼性は、すでにHDDを超えている [impress.co.jp]~東芝セミコンダクター社 インタビュー
上記の記事によると、書き換え3000回でいきなりダメになるわけじゃなく実際はもっと持つし、徐々に使えないセルが増えていく形になるので容量が減っていくけど、致命的なことになるわけじゃないようで。SSDの寿命はあまり気にしなくてもいいのかもしれませんね。
ネット上には鬼のような書き込みの繰り返しで加速試験をしている人々がちらほらいますが、それを見るに、壊れるときはほぼ一気に全破壊するようですよ。HDDのような部分回収とかは期待薄。
SSD耐久テストhttp://www004.upp.so-net.ne.jp/botchy/ssd.htm [so-net.ne.jp]
USBフラッシュを加速試験で壊したことあるけど、あの壊れ方はやばいっすよ。書き込んだ直後はちゃんと読めるんで、すぐには気がつかないんです。ところが一定時間経過後に読もうとすると壊れてる。かといってHDDのように異音がするわけでも、リトライで異常に遅くなるわけでもなく、ただ普通に壊れたデータを読み出せる。気がつかずに使い続ける場合も多いんじゃないかなぁ。
パリティやCRCを保存して破損を検出できるようにするとか、メモリブロックごとに書き込み回数をカウントするとかしないと、ちょっと危ないんじゃないかなぁ。
>パリティやCRCを保存して破損を検出できるようにするとか、メモリブロックごとに書き込み回数をカウントするとか
これがUSBメモリとSSDと呼ばれるメモリの差のようですよ。例えば以下はMTRONのspecの一部となります。
>- Wear-leveling algorithm : Dynamic and static wear-leveling>- ECC : 7-bit Error Correction Code(ECC)>- Bad Block Management algorithm
ということでして、おっしゃる機能はすべて実装されています。お買い求めになったUSBメモリはECCやBBMはあってもWear-levelingなどは行わなかったのかもしれませんね。すくなくともWear-levelingを動的に行うUSBメモリというものを私は知りません。
これがUSBメモリとSSDと呼ばれるメモリの差のようですよ。
USBメモリでもマジメに作ってあるものはこの辺がケアされています。例えばM-System社のTrueFFSが載っているUSBメモリだと
メモリーの長寿命化をはかる書換え回数分散処理エラーブロックの代替機能データの信頼性を高める、4ビットエラー訂正機能
機能がついています。http://www.iodata.jp/prod/usbmemory/easydisk/2006/epsl/ [iodata.jp]
ダメUSBメモリはここまで挙がっている通り、壊れてもRD/WRエラーを報告しないので注意が必要です。私も経験しました。コントローラーはNetacでした。
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アレゲは一日にしてならず -- アレゲ研究家
案外平気かも (スコア:3, 参考になる)
SSDの信頼性は、すでにHDDを超えている [impress.co.jp]
~東芝セミコンダクター社 インタビュー
上記の記事によると、書き換え3000回でいきなりダメになるわけじゃなく実際はもっと持つし、徐々に使えないセルが増えていく形になるので容量が減っていくけど、致命的なことになるわけじゃないようで。
SSDの寿命はあまり気にしなくてもいいのかもしれませんね。
Re: (スコア:4, 参考になる)
ネット上には鬼のような書き込みの繰り返しで加速試験をしている人々がちらほらいますが、
それを見るに、壊れるときはほぼ一気に全破壊するようですよ。
HDDのような部分回収とかは期待薄。
SSD耐久テストhttp://www004.upp.so-net.ne.jp/botchy/ssd.htm [so-net.ne.jp]
Re: (スコア:4, 参考になる)
USBフラッシュを加速試験で壊したことあるけど、あの壊れ方はやばいっすよ。書き込んだ直後はちゃんと読めるんで、すぐには気がつかないんです。ところが一定時間経過後に読もうとすると壊れてる。かといってHDDのように異音がするわけでも、リトライで異常に遅くなるわけでもなく、ただ普通に壊れたデータを読み出せる。気がつかずに使い続ける場合も多いんじゃないかなぁ。
パリティやCRCを保存して破損を検出できるようにするとか、メモリブロックごとに書き込み回数をカウントするとかしないと、ちょっと危ないんじゃないかなぁ。
すでに実装済みです。 (スコア:5, 参考になる)
>パリティやCRCを保存して破損を検出できるようにするとか、メモリブロックごとに書き込み回数をカウントするとか
これがUSBメモリとSSDと呼ばれるメモリの差のようですよ。
例えば以下はMTRONのspecの一部となります。
>- Wear-leveling algorithm : Dynamic and static wear-leveling
>- ECC : 7-bit Error Correction Code(ECC)
>- Bad Block Management algorithm
ということでして、おっしゃる機能はすべて実装されています。お買い求めになったUSBメモリは
ECCやBBMはあってもWear-levelingなどは行わなかったのかもしれませんね。すくなくともWear-leveling
を動的に行うUSBメモリというものを私は知りません。
Re:マジメに作ってあるUSBメモリには実装済みです。 (スコア:2, 参考になる)
>パリティやCRCを保存して破損を検出できるようにするとか、メモリブロックごとに書き込み回数をカウントするとか
これがUSBメモリとSSDと呼ばれるメモリの差のようですよ。
USBメモリでもマジメに作ってあるものはこの辺がケアされています。
例えばM-System社のTrueFFSが載っているUSBメモリだと
メモリーの長寿命化をはかる書換え回数分散処理
エラーブロックの代替機能
データの信頼性を高める、4ビットエラー訂正機能
機能がついています。
http://www.iodata.jp/prod/usbmemory/easydisk/2006/epsl/ [iodata.jp]
ダメUSBメモリはここまで挙がっている通り、壊れてもRD/WRエラーを報告しないので注意が必要です。私も経験しました。コントローラーはNetacでした。